logotype
   

ФИЦ "Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН"

 

 
line decor
     
line decor

 
 
 
      

 

Cканирующий туннельный микроскоп GPI 300

(ЛАБОРАТОРИЯ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ)


Четырехкамерная сверхвысоковакуумная установка для проведения технологических операций на поверхности твердого тела и анализа поверхности при адсорбции, десорбции, химических реакциях, воздействий ионного, электронного и лазерного пучков.

  • камеру загрузки
  • аналитическую камеру
  • камеру СТМ
  • камеру подготовки.

Имеет в своем составе электронный спектрометр OPC 103 типа "цилиндрическое зеркало", квадрупольный масс-спектрометр QM17 с диапазоном масс 1-300, трехсеточный дифрактометр медленных электронов, сканирующий туннельный микроскоп с комнатной температурой образца GPI-300, пьезокерамические натекатели газов СНА-1, СНА-2, 2 ионные пушки CI10, системы охлаждения и нагрева образцов и СТМ-игл в диапазоне температур 110-1100 К.

Установка cовмещена с оптическим спектрометром ДФС-24 для проведения оптических измерений (комбинационное рассеяние света, фотолюминесценция) in situ.

Экспериментальные методы исследования

СТМ (сканирующая туннельная микроскопия). Позволяет получать изображения поверхности с атомным разрешением и проводить спектральную идентификацию атомов в температурном интервале 5-300 К.

ДМЭ (LEED) (Дифракция медленных электронов - Low Energy Electron Diffraction) Классический метод определения структуры поверхности по анализу дифракционных изображений. Используется для характеристики структур на поверхности монокристаллов

СПТСХПЭ (EELFS) (Спектроскопия протяженной тонкой структуры характеристических потерь электронов - Extended Energy Loss Fine Structure). Метод основан на анализе протяженной тонкой структуры в спектрах потерь электронов, вызванной интерференцией при выходе электрона из атома твердого тела. Позволяет определять локальную структуру вокруг выделенного типа атомов.

ЭОС (AES) (Электронная оже-спектроскопия - Auger Electron Spectroscopy). Стандартное измерение элементного состава поверхности. Применение факторного анализа для обработки оже-спектров позволяет получать информацию о химическом составе поверхности.

ТДМС (TDS) (Термодесорбционная масс-спектрометрия - Thermal Desorption Spectroscopy). Классический метод изучения поверхностных химических реакций. Позволяет определять состав и энергетику термодесорбированных соединений.

 

 
 
      
    | Карта сайта | Webmaster | ©2021 ЦЕНИ ИОФ РАН