Установка предназначена для детектирования малых примесей элементов и /или изотопического состава материалов, в частности запатентованным авторами методом нелинейного роста продуктов комбинированных изотопов. Установка имеет разные источники ионизации пробы , в частности высокоэнергетическим пучком электронов.