Установка имеет в своем составе сверхвысоковакуумный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп GPI CRYO, позволяющий проводить исследования поверхности в диапазоне температур 5-300 К.

Для подготовки объекта исследования и предварительной диагностики поверхности имеется ионный источник, дифрактометр медленных электронов, масс-спектрометр и оже-спектрометр. Также имеются газовые источники, позволяющие подавать газовые пучки в непосредственно в зону анализа.

Экспериментальные методы исследования

Структура поверхности

СТМ (сканирующая туннельная микроскопия). Позволяет получать изображения поверхности с атомным разрешением и проводить спектральную идентификацию атомов в температурном интервале 5-300 К.

ДМЭ (LEED) (Дифракция медленных электронов - Low Energy Electron Diffraction) Классический метод определения структуры поверхности по анализу дифракционных изображений. Используется для характеристики структур на поверхности монокристаллов

СПТСХПЭ (EELFS) (Спектроскопия протяженной тонкой структуры характеристических потерь электронов - Extended Energy Loss Fine Structure). Метод основан на анализе протяженной тонкой структуры в спектрах потерь электронов, вызванной интерференцией при выходе электрона из атома твердого тела. Позволяет определять локальную структуру вокруг выделенного типа атомов.

Спектроскопия поверхности

ЭОС (AES) (Электронная оже-спектроскопия - Auger Electron Spectroscopy). Стандартное измерение элементного состава поверхности. Применение факторного анализа для обработки оже-спектров позволяет получать информацию о химическом составе поверхности.

ТДМС (TDS) (Термодесорбционная масс-спектрометрия - Thermal Desorption Spectroscopy). Классический метод изучения поверхностных химических реакций. Позволяет определять состав и энергетику термодесорбированных соединений.