КР спектрометр Horiba Jobin Yvon HR 800 позволяет производить:

-Идентификацию твердых веществ (включая минералы), жидкостей, газов
-Фазовую диагностику включений в минералах (твердые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения)
-Оценку степени кристалличности вещества, структурного состояния
-Исследование изоморфизма и полиморфизма
-Изучение политипии минералов

Лазер

Спектрометр оборудован встроенным стандартным He-Ne лазером (Pmax-20мВт, l=632.8нм, красный цвет) и доукомплектован внешним Ar+ лазером (Pmax-200мВт,) с настраиваемой длиной волны в интервале от 454 до 514нм. Rомплект notch фильтров позволяет спектрометру работать на длинах волн лазера 488нм (зелено-голубой цвет), и 514.5 нм (зеленый цвет).

Удвоитель частоты

Спектрометр оборудован лазерной приставкой WaveTrain фирмы Spectra Physics (США) для удвоения частоты лазерного излучения в диапазоне от 229 до 257 нм .

Спектрограф

Спектрометр укомплектован двумя стандартными решетками: 600 ш/мм и 1800 ш/мм. Спектрограф спектрометра LabRAM HR 800 позволяет сканировать диапазон 450-950 нм для решетки 1800 ш/мм и 450-2850 нм для решетки 600 ш/мм. Спектральное разрешение прибора зависит от решетки и диапазона регистрации спектра, который, в свою очередь, простирается от длины волны возбуждающего лазерного излучения в длинноволновую область. Например, для решетки 1800 ш/мм пр работе с лазером 514 нм разрешение составляет – 1.5-2.2 см^-1 , для лазера 633 нм соответственно – 0.6-1.2 см^-1. В диапазоне между 450 нм и 850 нм точность волнового числа для решетки 1800 ш/мм составляет +/- 1 см^-1.

Микроскоп

В состав рамановского спектрометра входит высокостабильный микроскоп Olympus BX41. Градуировка фокуса составляет 1 мкм. В комплекте имеются следующие объективы: 10Х (NA 0.25), 50X (NA 0.7), 100X (NA 0.9).Микроскоп Olympus BX 41 в комплексе с цифровой фотокамерой спектрометра HR 800 позволяет выводить на экран и производить запись на жесткий диск компьютера цветных изображений (разрешением 1280х1024 пикс) исследуемых областей образцов при различном увеличении (х100, х500, х1000). Могут быть получены как изображения поверхности в отраженном свете, так и снимки с разной глубины образца в проходящем свете (при условии прозрачности образцов). Могут быть изучены твердые, газово-жидкие, жидкие включения в прозрачных образцах, иногда возможно исследование шлифов без снятия покровного стекла.

Микроскоп Olympus BX41

Локальность анализа (размер зонда) составляет 1 мкм. Время «прицеливания» зависит от размера образца и размера объекта исследований. На экран монитора компьютера выводится область исследуемого образца 700х600 мкм (х100) и 70х60 (х1000). Поэтому, для ускорения обнаружения исследуемых зерен, необходимо отмечать местоположение исследуемого материала. Например, на предметном стекле местоположение группы зерен рекомендуется отмечать с помощью маркера, окружностью диаметром несколько миллиметров, Также можно отмечать и «привязывать» объекты при помощи фото-документирования.

Конфокальная оптика, применяемая в оптической схеме данного прибора позволяет послойно сканировать прозрачный образец в глубину с шагом в 1 мкм, а также изменять площадь анализируемой области образца, т.е управлять локальностью анализа.

В комплекте с прибором имеется база данных рамановских спектров по основным минералам, красителям, лекарствам, распространенным в быту веществам (около 1000). По этой базе данных может осуществляется автоматический поиск, при котором происходит идентификация полученного спектра со спектрами, хранящимися в базе. Данная база может пополняться новыми спектрами, полученными на HR 800.

Рамановский спектрометр имеет возможность попутнгоо регистрирования спектра лазеролюминесценции при комнатной температуре, что позволяет идентифицировать примесно-вакансионные центры в минералах. Вместе с рамановскими спектрами спектры люминесценции могут служить источником важной дополнительной генетической информации, например, при оценке степени воздействия таких факторов как радиация и/или отжиг на изучаемые образцы. По спектрам комбинационного рассеяния, могут быть оценены в ряде случаев особенности структурной упорядоченности вещества, например, степень упорядоченности атомов графита и соотношение графитовой и алмазной фаз в синтезированных алмазах.