logotype
   

ФИЦ "Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН"

 

 
line decor
     
line decor

 
 
 
      

 

NT-MDT ИНТЕГРА Спектра

(ЛАБОРАТОРИЯ ЛАЗЕРНОЙ ОПТИКИ ПОВЕРХНОСТИ)


Конфокальная КР / Флуоресцентная микроскопия 
Одновременное исследование одной и той же области образца методами конфокальной КР/ флуоресцентной/ Рэлеевской микроскопии и атомно-силовой микроскопии
Дифракционный предел пространственного разрешения: <200 нм по осям X и Y, <500 нм по оси Z (с иммерсионным объективом)
Истинная конфокальность − диафрагма с моторизованным изменением размера для обеспечения конфокальности и оптимизации сигнала
Моторизированный расширитель пучка/коллиматор: используйте индивидуальные настройки диаметра и коллимации луча для разных лазеров и объективов
Получение гиперспектральных изображений (полный спектр КР регистрируется в каждой точке одно-, двух- и трехмерного конфокального изображения) с последующей программной обработкой
Оптическая литография (векторная, растровая)
АСМ/СТМ: интеграция со спектроскопией
Прямая и инвертированная оптические схемы совмещения с АСМ (оптимизированы для изучения непрозрачных и прозрачных образцов соответственно), возможна схема боковой засветки
Оптика с максимально возможным оптическим разрешением (числовой апертурой) при одновременных АСМ исследованиях: 0,7 NA для прямой схемы, 1,3–1,4 NA для инвертированной схемы
Одновременное исследование одного и того же образца методами АСМ / СТМ и конфокальной лазерной/КР/ флуоресцентной микроскопии
Поддерживаются стандартные методики СЗМ (более 30 методик) — в сочетании с конфокальной КР / флуоресцентной микроскопией
Низкий уровень шума при исследованиях методами АСМ / СТМ (атомарное разрешение)
Оптическая АСМ головка уникальной конструкции обеспечивает минимизацию вибраций и термодрейфов, возникающих при использовании оптического микроскопа
Автоматическое отслеживание фокуса: образец всегда находится в фокусе благодаря АСМ обратной связи по Z. Может быть достигнуто высокое качество конфокальных изображений образцов с шероховатой или наклонной поверхностью
Программное обеспечение
Полная интеграция АСМ и оптической микроскопии / спектроскопии: исследования всеми методами АСМ / КР микроскопии / СБОМ, дальнейшая обработка результатов и анализ данных осуществляются одним и тем же программным обеспечением
Комплексный анализ одно-, двух- и трехмерных гиперспектральных изображений
Возможен экспорт данных в другие программы (Excel, MatLab, Cytospec etc.)
Спектроскопия
Очень высокая оптическая эффективность 520 мм спектрометра с четырьмя моторизованными решетками
Доступны видимый, УФ и ИК диапазоны спектра
 
Решетка Эшелле со сверхвысокой дисперсией; спектральное разрешение: 0.007 нм (< 0.1 см-1 ) (< 0.1 1/cm)**
В одном комплексе возможна установка до 3 различных детекторов:
  • CCD камера с термоэлектрическим охлаждением до -100°C или EMCCD камера — для быстрого сканирования
  • фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) или лавинный фотодиод (ЛФД) в режиме счета фотонов
  • фотоэлектронный умножитель для Рэлеевской микроскопии.
Возможность использования моторизованных поляризационных устройств в каналах возбуждения и детектирования, измерение КР в скрещенных поляризациях
Автоматизированное переключение между различными лазерами
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
Поддерживаются два основных типа СБОМ: (i) основанный на применении оптоволоконных зондов, (ii) основаный на применении кремниевых АСМ зондов
Поддерживаются все оптические схемы: на пропускание, на отражение, сбора излучения
Регистрируются все СБОМ сигналы: интенсивность лазерного излучения,  флуоресценция, а также спектроскопия

SNOM lithography (vector, raster)

Гигантское комбинационное рассеяние  и другие оптические методики, связанные с локальным  усилением сигнала (TERS, TEFS, S-SNOM, STM-LE)
Доступны все существующие конфигурации TERS: засветка/сбор снизу, сверху, сбоку
Могут быть использованы различные СЗМ методики и типы зондов: СТМ иглы, АСМ зондовые датчики (микромеханические и камертонные) в полуконтактной методике и поперечно-силовой микроскопии
Двойное сканирование (для нахождения точки усиления TERS): сканирование образцом и сканирование зондом / пятном лазера
Моторизованная поляризационная оптика для обеспечения оптимальной для TERS поляризации

НаноЛаборатория ИНТЕГРА Спектра — это первая в мире интеграция атомно-силового микроскопа (АСМ) с конфокальной КР /флуоресцентной микроскопией и спектроскопией.

ИНТЕГРА Спектра поддерживает большинство существующих на сегодняшний день АСМ методов (более 30), позволяющих проводить исследования с нанометровым разрешением. Использование совокупности этих методов предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многие другие.
Возможность одновременного с АСМ исследования одного и того же участка образца с применением методов конфокальной КР спектроскопии и флуоресцентного анализа позволяет получить данные о химическом составе, кристаллической структуре и ее ориентации, присутствии примесей и дефектов, формы макромолекул и пр.
ИНТЕГРА Спектра позволяет проводить измерения на базе прямого и инвертированного оптических микроскопов. Образец может быть помещен в контролируемую атмосферу или в жидкую среду при изменяемой температуре.
Полный спектр КР/флуоресценции регистрируется в каждой точке исследуемого образца с последующей программной обработкой одновременно с получением АСМ изображения. Благодаря высокому качеству оптической системы двух- и трехмерные распределения спектральных характеристик образца могут быть изучены с пространственным разрешением, близким к теоретическому пределу.

Основными проблемами при проведении исследований с помощью КР микроскопии являются малая величина сигнала КР и дифракционный предел пространственного разрешения.
Сигнал КР, как правило, составляет 1/1000000 интенсивности сигнала флуоресценции. При использовании видимого света разрешение в классической конфокальной микроскопии приблизительно равно 200 нм.
Новым словом в КР микроскопии стало открытие интересного феномена: интенсивность электромагнитного поля (света) может быть значительно увеличена вблизи наноразмерных металлических выступов («наноантенн»), что приводит к соответствующему усилению сигнала КР от объектов в радиусе ~15 нм около кончика наноантенны. Этот эффект получил название гигантского комбинационного рассеяния света (ГКР), на основе которого разработаны методы поверхностно-усиленной КР спектроскопии (Surface-Enhanced Raman Spectroscopy, SERS) и зондово-усиленной КР спектроскопии (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy, TERS).
С помощью специально подготовленного АСМ зонда ИНТЕГРА Спектра позволяет на несколько порядков увеличить значение интенсивности сигнала КР в радиусе 10–20 нм около кончика зонда (эффект ГКР). Таким образом, разрешение по плоскости при картировании КР (TERS) и флуоресценции не ограничено дифракционным пределом и может достигать значений меньше, чем 15 нм.
Даже одиночные молекулы могут быть обнаружены и идентифицированы в соответствии с их спектром.

  • Более 30 АСМ методов для измерения рельефа поверхности, механических, электрических, магнитных свойств образца, проведения наноманипуляций и пр.
  • Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия
  • Конфокальная КР-микроскопия
  • Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия
  • Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), в том числе безапертурная
  • Локальное усиление комбинационного рассеяния и флуоресценции (TERS, TEFS)

 

  • Температура образца
  • Влажность
  • Газовый состав
  • Измерения в жидкости
  • Внешнее магнитное поле
  • Использование электрохимической ячейки
 
  • Исследование графена, углеродных нанотрубок и других других углеродных материалов
  • Полупроводники
  • Нанотрубки, нанопроволоки, квантовые точки и другие наноматериалы
  • Полимеры
  • Определение характеристик оптических устройств: полупроводниковые лазеры, оптоволокно, волноводы, устройства плазмоники
  • Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов
  • Контроль химических реакций

 

 
 
      
    | Карта сайта | Webmaster | ©2021 ЦЕНИ ИОФ РАН